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EXF鍍層測厚儀采用的技術(shù)工作詳細介紹

更新時(shí)間:2018-08-03      點(diǎn)擊次數:2657
   EXF鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量,一般常采用無(wú)損檢測方法。但是,由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設備等因素引進(jìn)了諸多測量誤差,為確保測量結果的準確可靠,有必要對其進(jìn)行不確定度分析。
 
  EXF鍍層測厚儀原子的特性由原子序來(lái)決定,亦即質(zhì)子的數目或軌道中電子的數目,即如圖所示特定的X-射線(xiàn)能量與原子序間的關(guān)系。K輻射較L輻射能量高很多,而不同的原子序也會(huì )造成不同的能量差。
 
  覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱(chēng)重法,X射線(xiàn)熒光法,β射線(xiàn)反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
 
  EXF鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。
 
  EXF鍍層測厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線(xiàn)照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì )發(fā)射出各自的特征X射線(xiàn),不同的元素有不同的特征X射線(xiàn);探測器探測到這些特征X射線(xiàn)后,將其光信號轉變?yōu)槟M電信號;經(jīng)過(guò)模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進(jìn)行處理;計算機*的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息,通過(guò)數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的鍍層厚度。
 
  EXF鍍層測厚儀能檢測出常見(jiàn)金屬鍍層厚度,無(wú)需樣品預處理;分析時(shí)間短,僅為數十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。
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